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CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试装置

CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试装置


应用领域CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试

技术特点200nm~2500nm宽波段相对光谱响应度测量;辐射光源中心40mm×40mm区域辐照度非均匀性小于1%

性能指标

中心波长精度

优于±1nm

峰值波长精度

优于±1nm

光谱带宽测量精度

优于±0.5nm

相对光谱响应度测量精度

优于±2%

非均匀性标定误差

优于±1%

像素不均匀性测量精度

优于±1%

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